光盘缺陷及其对测量值的影响

核心提示： 可能原因：（a）母盘刻录过程* 涂胶层不合适，* 激光能量不合适，光盘缺陷及其对测量值的影响(4)，（b）注塑过程* 模具温度* 融胶温度* 注塑参数* 碟片的冷却纠正措施：?修改注塑机的参数设定，?更换母盘，（轨迹间距和信息槽的形状）* 注塑过程的参数偏离正常值，如压力、模具和融胶温度，

可能原因：

（a）母盘刻录过程

* 涂胶层不合适。

* 激光能量不合适。

（b）注塑过程

* 模具温度

* 融胶温度

* 注塑参数

* 碟片的冷却

纠正措施：

?修改注塑机的参数设定。

?更换母盘，并检查玻璃基片刻录过程和电镀过程。

3．高频参数（HF）

3．1 I1T—最长槽的信号（I11/Itop）

I3T—最短槽的信号（I3/Itop）

描述：这两个参数是这样一个信号比率值，它描述信息槽的形状和随后信息槽在基片上的复制质量。这两个值低于（高于）要求的范围（水平）都将导致高的误码率。

可能原因：

* 因玻璃基片刻录过程而导致的母盘不合格。（光刻胶厚度不正确、激光能量不合适导致HF和PP信号相互干扰）

* 注塑过程的参数偏离正常值，如压力、模具和融胶温度。

纠正措施：

?更换母盘。

?检查母盘生产中玻璃基片的刻录过程。

?检查注塑参数。

3．2 对称度（Asy.）

描述：HF高频信号I3和I11的有效值之间的差别。

可能原因：

* 因玻璃基片刻录过程而导致的母盘不合格。（显影不正确、激光能量不合适导致HF和PP信号相互干扰）

* 注塑过程的参数偏离正常值，如压力、模具和融胶温度。

纠正措施：

?更换母盘。

?检查注塑参数。

3．3 串音（Cross-Talk）

描述：这个参数表示轨迹上和轨迹间两者反射光之间的差别。

可能原因：

* 因玻璃基片刻录过程而导致的母盘不合格。（轨迹间距和信息槽的形状）

* 注塑过程的参数偏离正常值，如压力、模具和融胶温度。

纠正措施：

?检查玻璃基片的刻录过程。